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TR7600SIII

• 超高速3D CT X射线检测
• 优越的影像品质
• 真实3D锡点检视
• 高解析度可检测小至01005in晶片

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TR5001

• 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
• 高测试覆盖率

• 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充

• 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

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TR5001E

• 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
• 高测试覆盖率之解决方案

• 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充

• 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

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